USAF透射光路測(cè)試板

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2023-12-20
產(chǎn)品介紹：USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒(méi)有光學(xué)材料，光線(xiàn)通過(guò)空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問(wèn)題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡（上方）可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間，可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64
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產(chǎn)品介紹

品牌	其他品牌	價(jià)格區(qū)間	面議
組件類(lèi)別	光學(xué)元件	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,電子/電池

USAF透射光路測(cè)試板

可測(cè)量X射線(xiàn)，紫外光，近紅外以及遠(yuǎn)紅外成像系統(tǒng)的分辨率

安裝方便

可用在透射場(chǎng)合

USAF透射光路測(cè)試板是采用電鑄工藝制作在很薄的鎳片上去除掉多余材料。由于在圖案區(qū)域沒(méi)有光學(xué)材料，光線(xiàn)通過(guò)空氣傳播，這樣就去除了色差和吸收問(wèn)題，本測(cè)試板圖案函蓋了0組圖，1組元到3組圖，6組元。使用者手冊(cè)里詳細(xì)概括了各組圖和組元的位置。UV熔融石英熒光測(cè)試卡（上方）可用在NUV場(chǎng)合，而透射光路測(cè)試板可用在遠(yuǎn)紫外以及遠(yuǎn)紅外的場(chǎng)合。這種電鑄模式的標(biāo)板裝在兩個(gè)圓板之間，可以安裝到我們的標(biāo)準(zhǔn)光學(xué)裝置#64565上。